Der erste Versuch dient zur Einführung in die Messtechnik.
Die Versuche werden in mehreren Laboren parallel durchgeführt. Da es nicht möglich ist, jedes Labor mit der exakt gleichen Messtechnik auszustatten, sind von den anderen Laboren abweichende Anweisungen für das Labor Nachrichtentechnik E6.01 in eckige Klammern [xxx] gefasst.
In diesem Versuch messen Sie die Verzögerungszeit von einem NAND Gatter 74HC00 und analysieren die statische Übertragungskennlinie eines Inverters. Das Datenblatt zu dem NAND Gatter finden Sie hier:
https://assets.nexperia.com/documents/data-sheet/74HC_HCT00.pdf
Die Definition von Schaltzeiten finden Sie im Buch von Fricke in Kapitel 4. Kapitel 5.1 finden Sie die Beschreibung eines Inverters aus CMOS Transistoren.
Fricke, Digitaltechnik, "Verhalten logischer Gatter"
Das Benutzerhandbuch für das Oszilloskop finden Sie hier:
Im praktischen Prüfungsteil müssen Sie Ihre Ergebnisse in Form eines Berichts dokumentieren und über Moodle hochladen. Deshalb haben Sie hier Gelegenheit auch solche Berichte anzufertigen und über Moodle abzugeben. Die Form des Berichts finden Sie hier: Form des Berichts .
Starten Sie das Oszilloskop und schließen Sie eine Analogprobe an. Am Scope wird ein Testsignal “Demo2” [“Demo”] ausgegeben. Messen Sie das Testsignal “Demo2” [“Demo”] mit der Probe und stellen Sie das Signal auf dem Scope dar. Gehen Sie dazu so vor, wie im Handbuch des Oszilloskops beschrieben. [R&S Menu - Apps - Demo - 10“ Display]
Starten Sie den Funktionsgenerator HMF2550 [welcher im Osziloskop verbaut ist über das R&S Menu] und erzeugen Sie ein Rechtecksignal mit einer Frequenz von 10 MHz. Die niedrigste Spannung soll 0V und die höchste Spannung sollen 5V sein. Stellen Sie den zeitlichen Verlauf des Signals auf dem Oszilloskop über Kanal 1 dar.
Bevor Sie ein Signal mit dem Funktionsgenerator auf die Eingänge des Gatters geben, können Sie zunächst statisch die Funktion des Gatters überprüfen.
Die Schaltung 74HC00 enthält insgesamt 4 NAND Gatter. Schalten Sie die vier NAND Gatter als 4 Inverter in eine Kette und
Wie sind die Verzögerungszeiten für 1 Inverter? An welchen Stellen der Kurve messen Sie die Verzögerungszeit?
Im Baustein 4007 befinden sich sechs CMOS Transistoren. Bauen mit Hilfe der Transistoren in diesem Baustein einen Inverter auf. Das Datenblatt des Bausteins finden Sie hier:
https://assets.nexperia.com/documents/data-sheet/HEF4007UB.pdf
Die statische Übertragungskennlinie gibt den Zusammenhang zwischen Eingangs- und Ausgangsspannung eines Gatters wieder. Wählen Sie eine Betriebsspannung von 5V.
Verschalten Sie zwei MOS Transistoren zu einem Inverter. Messen Sie dann die statische Übertragungskennlinie des Inverters. Die Darstellung der statischen Kennlinie mit dem Scope erfolgt im XY Modus. Die X Ablenkung wird durch Kanal 1 und die Y Ablenkung von Kanal 2 gesteuert. Wenn auf Kanal 1 das Eingangssignal und auf Kanal 2 das Ausgangssignal des Gatters liegen, dann wird die Ausgangsspannung abhängig von der Eingangsspannung dargestellt.
Dokumentieren Sie Ihre Untersuchungsergebnisse in einem Bericht und laden Sie den Bericht in Moodle hoch. Denken Sie daran, dass dieser Bericht eine Vorbereitung auf die Prüfung ist, d.h. sie haben nicht beliebig viel Zeit den Bericht zu erstellen. In der Prüfung müssen Sie den Bericht während der Laborzeit hochladen.